VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers
Mentés helye:
Testületi szerző: | |
---|---|
Közreműködő(k): | |
Különgyűjtemény: | e-book |
Formátum: | könyv |
Nyelv: | angol |
Megjelenés: |
Singapore : Springer Singapore,
2017
|
Sorozat: | Communications in Computer and Information Science, ISSN 1865-0929 ; 711 |
Tárgyszavak: | |
Online elérés: | https://doi.org/10.1007/978-981-10-7470-7 |
Címkék: |
Új címke
A tételhez itt fűzhet saját címkét!
|
Online elérés
https://doi.org/10.1007/978-981-10-7470-7IK Kari Könyvtár
Jelzet: | Leltári szám: | Gyűjtemény: | Státusz: |
---|---|---|---|
14430 | 14430 | Nem kölcsönözhető |