Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials
Mentés helye:
Szerző: | |
---|---|
Formátum: | könyv |
Nyelv: | angol |
Megjelenés: |
Berlin [etc.] : Springer,
1984
|
Sorozat: | Lecture notes in physics ; 204 |
Címkék: |
Új címke
A tételhez itt fűzhet saját címkét!
|
Hasonló tételek
-
Characterization of UFG materials by X-ray and Neutron diffraction
Szerző: Ungar, T
Megjelenés: (2017) -
The structure of non-crystalline materials : Liquids and amorphous solids
Szerző: Waseda, Yoshio
Megjelenés: (1980) -
Small-angle scattering of X-rays
Szerző: Guinier, André
Megjelenés: (1955) -
Thin film analysis by X-ray scattering
Szerző: Birkholz, Mario
Megjelenés: (2006) -
X-Ray crystal structure
Szerző: Mclachlan, Dan (Jr.))
Megjelenés: (1957)